技术文章 / article 您的位置:网站首页 > 技术文章 > 二维测高仪可完成常用参数的测量工作

二维测高仪可完成常用参数的测量工作

发布时间: 2022-10-01  点击次数: 618次
   二维测高仪可进行平面度、平面角度、锥度的测量。通过使用相应的附件还可以进行垂直度的测量。可替代如卡尺、千分尺、角度尺等传统测量工具,使用方式多样的多功能测量设备。不同的型号配置对应不同的使用环境,在车间现场或计量实验室不同的使用环境对工件进行测量。测高仪可完成常用参数的测量工作,如高度、深度、孔径、槽宽、轴心距、孔心距等参数。
  
  设备用途:
  1、可用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。
  2、可进行一维(1D)或二维(2D)的测量。也可测量直线度、垂直度、平行度、端面跳动以及角度。
  3、量程有365、615、920mm三种尺寸。
  4、内置空气轴承,可在平台上随意移动。立柱具有精度很高的垂直度。系统确保匹配稳定性和易用性。
  
  光栅测量位移的原理是以光栅栅距为一把标准尺子对位称量进行测量。高分辨率的光栅尺一般造价较贵,且制造困难。为了提高系统分辨率,需要对莫尔条纹进行细分,光栅尺传感器系统多采用电子细分方法。当两块光栅以微小倾角重叠时,在与光栅刻线大致垂直的方向上就会产生莫尔条纹,随着光栅的移动,莫尔条纹也随之上下移动。这样就把对光栅栅距的测量转换为对莫尔条纹个数的测量。
  
  二维测高仪特性:
  1、高解析度的光学量测系统是提供高精度量测及稳定性好的保证;
  2、可量测长度、内圆、高度、深度和距离,尺寸可输出圆孔直径和位置;
  3、电动的驱动量测操作迅速,测头在量测点时测压固定,可确保精度准确度。

联系我们

contact us

咨询电话

13790611951

扫一扫,添加好友

返回顶部